Le centre des matériaux et études structurales (CEMES), unité propre du CNRS, propose une expertise en microscopie électronique en transmission et en préparation de lames FIB.
Les thématiques scientifiques du CEMES, en lien avec la MET, concernent les propriétés mécaniques, magnétiques, optiques ou électroniques de nanoparticules, nanofils, films minces ou matériaux massifs. Les techniques utilisées permettent l'étude de ces matériaux jusqu’à l’échelle atomique pour l’analyse structurale et chimique.
Plus spécifiquement, différentes expériences sont dédiées à la cartographie des champs (magnétique, électrique, de déformation) et à l’application in-situ de stimuli externes sur les échantillons (traction, chauffage, indentation...).
La combinaison de porte-objets dédiés et de techniques de préparation d’objets par FIB permet d’imaginer de nouvelles configurations expérimentales.
Le CEMES possède également une activité de développements instrumentaux et méthodologiques ainsi que de logiciels spécifiques pour le traitement quantitatif des données (Images MEHR, STEM-HAADF, Hologrammes, CBED, ...) qu'il met au service des utilisateurs.
Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accès via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.
Plus d'information peuvent être trouvées sur les sites ouèbes de la plateforme, ou en contactant la responsable.
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| MET | Expérimentations | Spécificités techniques et performances | Expertises |
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FEI-SACTEM 50 jours accès / an |
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Hitachi I2TEM 50 jours accès / an |
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FIB Hélios 50 jours accès / an |
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JEOL 2010 50 jours accès / an |
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