IPCMS

La plate-forme de microscopie Ă©lectronique de l'IPCMS  de Strasbourg  appartient Ă  l’Institut de Physique et Chimie des MatĂ©riaux de Strasbourg, unitĂ© mixte du CNRS et de l’UniversitĂ© de Strasbourg (UMR 7504).

Les thématiques scientifiques de l’équipe de microscopie électronique de l’IPCMS portent sur l’étude des nanomatériaux et des nanostructures élaborées dans l’institut ou dans les laboratoires partenaires, afin de corréler leurs caractéristiques structurales, morphologiques et de structure électronique à leurs propriétés d’intérêt (magnétiques, optiques, catalytiques). Les techniques de prédilection utilisées sont l’imagerie à haute résolution en mode balayage couplée à la cartographie chimique, la tomographie électronique dans ses différents modes et la microscopie in-situ à haute température ou sous potentiel électrique. Depuis quelques années, l’équipe développe des approches de microscopie environnementale sous gaz à haute température et pression atmosphérique, afin d’étudier les processus dynamiques au niveau de catalyseurs durant les réactions catalytiques ou les phénomènes de croissance et réorganisation des nanostructures. Une autre spécificité récemment implémentée de la plateforme est la possibilité de réaliser des expériences de microscopie électronique avec des impulsions ultrabrèves d'électrons. La microscopie résolue en temps peut résoudre la dynamique structurale des nano-objets et des nanostructures jusqu'à l’échelle de la picoseconde, en associant résolution spatiale et résolution temporelle pour l'étude des processus physico-chimiques réversibles ou irréversibles

Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accès via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.

Plus d'information peuvent être trouvées sur les sites ouèbes de la plateforme, ou en contactant le responsable.

 

MET Expérimentations Spécificités techniques et performances Expertises

JEOL Grand ARM 2

20 jours accès / an
  • HR-STEM (HAADF et BF)
  • Tomographie Ă©lectronique
  • STEM-EELS, STEM-EDS
  • MET in-situ (en tempĂ©rature, STM)
  • TEM environnemental (gaz, pression atmosphĂ©rique)
  • Holographie

 

 

  • Cold FEG 60-80-300 kV
  • Correcteur de Cs image JEOL
  • EELS CEFID with TVIPS camera
  • EDX Dual DrySD detector (2x160mm2)
  • STEM : ADF/BF, SAAF segmented detector
  • two direct electron detection cameras (APOLLO - 4K and CELERITAS for energy filter with up to 16 kframes/s)
  • Electron shutter : EDM (electron dose modulator), swithcing with less than 50 ns
  • Photo excitation system of the specimen
  • TEM resolution: < 0.07 nm 
  • STEM resolution: < 0.136 nm 
  • EELS energy resolution: 0.35 eV
  • 3D tomography in TEM and STEM (low dose, variable voltage). 
  • In situ in the gas phase (up to 1000°C, 1 atm, with the possibility of analyzing tge reaction products). 
  • In situ in the liquid phase (static/dynamic, up to 100°C). 
  • Operando electrochemistry (application of an electrochemical bias to a sample placed in an electrolyte within a closed electrochemical TEM cell)
  • In situ electrochemistry/liquid/gas phase experiments under optical excitation (with the sample located in a controlled gas or liquid environment).

     


JEOL 2100 UTEM

20 jours accès / an
  • ExpĂ©riences pompe-sonde
  • UTEM en mode stroboscopique
  • DTEM en mode single-shot
  • EELS stroboscopique ou single-shot

 

 

  • Haute tension 200 kV
  • Photocathode (disc, pointe Ta)
  • Cathode thermique (LaB6)
  • Objectif « high resolution »
  • Mode Lorentz (B < 2 mT, Mag ≤40 k)
  • EELS Gatan Enfinium
  • Camera Gatan Ultrascan 2k x 2k
  • Modes : stroboscopique, single-shot, continu (thermique)
  • Laser femtoseconde : 370 fs, IR, UV, vis, ≤40 MHz
  • Deux lasers nanoseconde : 7 ns, IR, UV, ≤20 Hz
  • Echelle stroboscopique < 1 ps – 3 ns
  • Echelle single-shot 7 ns – 1 s
  • RĂ©solution temporelle strobo > 1 ps
  • RĂ©solution spatiale strobo 0.23 nm (limitĂ© par rĂ©ponse de l’objet)
  • RĂ©solution EELS strobo 0.8 eV
  • RĂ©solution temporelle single-shot 7 ns
  • RĂ©solution spatiale single-shot 20 nm
  • RĂ©solution EELS single-shot > 2 eV; 20-30 eV en core-loss quantitatif
  • Enregistrement continu : IDES Relativity system
  • Porte-objet double tilt, chauffant, cryo, tomo, Nanofactory STM

 

  • ExpĂ©riences UTEM pompe-sonde
  • UTEM stroboscopique
  • DTEM single-shot
  • Imagerie, diffraction, EELS ultrarapides
  • Technologie des lasers pulsĂ©s