IPCMS

La plate-forme de microscopie Ă©lectronique de l'IPCMS  de Strasbourg  appartient Ă  l’Institut de Physique et Chimie des MatĂ©riaux de Strasbourg, unitĂ© mixte du CNRS et de l’UniversitĂ© de Strasbourg (UMR 7504).

Les thématiques scientifiques de l’équipe de microscopie électronique de l’IPCMS portent sur l’étude des nanomatériaux et des nanostructures élaborées dans l’institut ou dans les laboratoires partenaires, afin de corréler leurs caractéristiques structurales, morphologiques et de structure électronique à leurs propriétés d’intérêt (magnétiques, optiques, catalytiques). Les techniques de prédilection utilisées sont l’imagerie à haute résolution en mode balayage couplée à la cartographie chimique, la tomographie électronique dans ses différents modes et la microscopie in-situ à haute température ou sous potentiel électrique. Depuis quelques années, l’équipe développe des approches de microscopie environnementale sous gaz à haute température et pression atmosphérique, afin d’étudier les processus dynamiques au niveau de catalyseurs durant les réactions catalytiques ou les phénomènes de croissance et réorganisation des nanostructures. Une autre spécificité récemment implémentée de la plateforme est la possibilité de réaliser des expériences de microscopie électronique avec des impulsions ultrabrèves d'électrons. La microscopie résolue en temps peut résoudre la dynamique structurale des nano-objets et des nanostructures jusqu'à l’échelle de la picoseconde, en associant résolution spatiale et résolution temporelle pour l'étude des processus physico-chimiques réversibles ou irréversibles

Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accès via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.

Plus d'information peuvent être trouvées sur les sites ouèbes de la plateforme, ou en contactant le responsable.

 

MET Expérimentations Spécificités techniques et performances Expertises



JEOL 2100F



20 jours accès / an
  • HR-STEM (HAADF et BF)
  • Tomographie Ă©lectronique
  • STEM-EELS, STEM-EDS
  • MET in-situ (en tempĂ©rature, STM)
  • TEM environnemental (gaz, pression atmosphĂ©rique)
  • Holographie

 

 
  • Schottky FEG 120-200 kV
  • Correcteur de Cs sonde (rĂ©solution STEM : 0.11 nm)
  •  DĂ©tecteurs HAADF, BF, DF
  •  Biprisme (holographie)
  •  GIF Tridiem (rĂ©solution : 0.7 eV)
  •  DĂ©tecteur EDX (SDD)
  •  Camera Gatan 2K x 2K
  •  Porte objet double tilt, tilt-rotation
  •  Porte objet chauffant (700°C)
  •  Porte objet cryogĂ©nique Ă  tilt Ă©levĂ©
  •  Porte objet tomographie +/ 80°
  •  Porte objet STM
  •  Porte objet environnemental gaz (1000°C, pression jusqu’à 1 atm)
  •  Porte objet liquide, option Ă©lectrochimie in situ.

 
  • Tomographie Ă©lectronique en mode TEM, STEM et EFTEM
  •  Imagerie HRSTEM corrigĂ©e d’aberrations
  •  Microscopie insitu en tempĂ©rature et dans un potentiel Ă©lectrique
  •  Microscopie environnementale sous gaz Ă  pression atmosphĂ©rique
  •  Microscopie Ă©lectronique rĂ©solue en temps
  •  PrĂ©paration des Ă©chantillons par amincissement ionique et mĂ©canique
  •  PrĂ©paration des coupes par ultramicrotomie
  •  NanomatĂ©riaux et nanostructures carbonĂ©s
  •  Nanoparticules inorganiques, hybrides
  •  Couches minces mĂ©talliques, oxydes, hybrides
  •  MatĂ©riaux pour la catalyse et pour l’énergie

 



JEOL 2100 UTEM



20 jours accès / an
  • ExpĂ©riences pompe-sonde
  • UTEM en mode stroboscopique
  • DTEM en mode single-shot
  • EELS stroboscopique ou single-shot

 

 
  • Haute tension 200 kV
  • Photocathode (disc, pointe Ta)
  • Cathode thermique (LaB6)
  • Objectif « high resolution »
  • Mode Lorentz (B < 2 mT, Mag ≤40 k)
  • EELS Gatan Enfinium
  • Camera Gatan Ultrascan 2k x 2k
  • Modes : stroboscopique, single-shot, continu (thermique)
  • Laser femtoseconde : 370 fs, IR, UV, vis, ≤40 MHz
  • Deux lasers nanoseconde : 7 ns, IR, UV, ≤20 Hz
  • Echelle stroboscopique < 1 ps – 3 ns
  • Echelle single-shot 7 ns – 1 s
  • RĂ©solution temporelle strobo > 1 ps
  • RĂ©solution spatiale strobo 0.23 nm (limitĂ© par rĂ©ponse de l’objet)
  • RĂ©solution EELS strobo 0.8 eV
  • RĂ©solution temporelle single-shot 7 ns
  • RĂ©solution spatiale single-shot 20 nm
  • RĂ©solution EELS single-shot > 2 eV; 20-30 eV en core-loss quantitatif
  • Enregistrement continu : IDES Relativity system
  • Porte-objet double tilt, chauffant, cryo, tomo, Nanofactory STM

 
  • ExpĂ©riences UTEM pompe-sonde
  • UTEM stroboscopique
  • DTEM single-shot
  • Imagerie, diffraction, EELS ultrarapides
  • Technologie des lasers pulsĂ©s