IRMA

La Fédération de Recherche CNRS 3095 « IRMA », Institut de Recherche sur les matériaux avancés, a été créée au 1er janvier 2008 par le CNRS, l’ENSICAEN, l’INSA de Rouen et les Universités de Caen et de Rouen. Elle a pour missions entre autres de faciliter le développement de recherches communes entre les équipes de la fédération, notamment sur les oxydes et matériaux à propriétés remarquables, de développer et maintenir une plateforme technologique d’analyse et de caractérisation microscopiques à l’échelle ultime, par Microscopie électronique en transmission et Sonde atomique, de niveau mondial.

Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accès via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.

Plus d'information peuvent être trouvées sur les sites ouèbes de la plateforme, ou en contactant le responsable.

MET	Expérimentations	Spécificités techniques et performances	Expertises
JEOL ARM 200 20 jours accès / an	HREM & HRSTEM corrigées STEM-EDS atomique	80 et 200 kV – CFEG Correcteur image et sonde STEM - HAADF (résolution 0.08 nm @ 200 keV) (résolution 0.136 nm @ 80 keV) HREM (résolution 0.08 nm @ 200 keV) (résolution 0.136 nm @ 80 keV) Caméras Gatan USC1000 + Orius 200 EDX Centurio (JEOL) avec diaphragmes dédiés P.O simple tilt, P.O. double tilt, P.O. double tilt N2	Cristallochimie sur poudre, films minces Oxydes, intercroissances complexes Oxychalcogénures Chalcogénures Interfaces Catalyse Matériaux pour l'énergie Nanoparticules
MEB FIB plasma ThermoScientific Helios G4 PFIB CXe 40 jours accès / an	Préparation d’échantillons pointes pour analyse sonde	DBS" retractable detector of BSE (ABS and CBS mode), TLD" in-Lens Elstar SE/BSE mode detector, Everhart-Thornley SE detector, ICE" detector for SE and secondary ions, 5 axis motorized eucentric stage, Beam deceleration option by polarization of the stage (20 eV minimum), 4 points electrical measurement system " IMINA Technologies ", EBIC Point Electronic measurement system, Oxford Instruments 80 mm2 EDX SDD detector, EBSD CMOS Symmetry S2 Oxford Instruments detector, Plasma cleaning (or decontamination) system for the microscope chamber, In-situ thin foil handling and extraction system " Easylift ", Pt, W and C gas injection system " MultiChem ". Cryo-stage for specimen observation and preparation FerroVAC UHV Cryo transfer system (transfer at cryo temperature under vacuum to the LEAP)	Atom probe specimen preparation on area of interest Cryo-preparation and transfer under vacuum for analysis in atom probe Application to: metals, alloys, semi-conductors,ceramics, minerals, organic materials, liquids. SE, BSE imaging and ionic imaging EBIC TKD and EBSD Chemical mapping and analysis by EDS (2D and 3D) 3D-FIB
SAT LAWATAP 40 jours accès / an	Analyse chimique à l’échelle atomique matériaux métalliques et mauvais conducteurs	Détecteur aDLD de 77mm Laser à longueur d'onde variable ( 1030nm, 515nm et 343nm) Température échantillon : 18-100K Haute résolution en masse Résolution latérale 0.3 nm Résolution en profondeur 0.09 nm	Semi-conducteurs Verres Oxydes Isolants Alliages métalliques
SAT CAMECA LEAP 5000 XR 40 jours accès / an	Analyse chimique à l’échelle atomique matériaux métalliques	Mode électrique Local electrodeTM Mode Laser (longueur d'onde 355 nm , impulsions 15 ps, 0.1 pJ à 1 nJ/impulsion) limite de détection 10 ppm Résolution en masse (échantillon Al) : FWHM > 1100 Fréquence de pulse max. : 500 kHz Vitesse d’acquisition maximale : > 6.10E6 atomes/heure Température minimale : d’échantillon : 25 K Rendement de détection : 50% Volume moyen analysé : 150 × 150 × 500 nm3	Alliages métalliques Semi-conducteurs et isolants Matériaux géologiques
JEOL F200 50 jours accès / an	Cristallographie par les électrons Tomographie en diffraction électronique	80 et 200 kV – Cold FEG Caméra Gatan Rio 16 in situ Caméra ASI Cheetah M3 EDX Centurio SDD de 100 mm2 and angle solide de 0.8 sr Pièce polaire HR +/- 35° X (80° sur PO tomographie), +/- 30°Y P.O simple tilt, P.O. double tilt, P.O. double N2, PO cryo-transfert tomo (+/-70°) Précession (système ASTAR)	Cristallochimie sur poudre, films minces Oxydes, intercroissances complexes Oxychalcogénures Chalcogénures Interfaces Catalyse Matériaux pour l'énergie Nanoparticules