CLYM

Le Consortium LYon - St-Etienne de Microscopie (CLYM, ex-Centre LYonnais de Microscopie) est une FĂ©dĂ©ration de Recherches crĂ©Ă©e en 2007 (FED 4092) et reconduite aprĂšs Ă©valuation positive par l’AERES depuis 2010. Le CLYM dispose de divers outils de microscopie, essentiellement en microscopie Ă©lectronique (SEM / FIB / TEMs). La structure regroupe 13 laboratoires partenaires issus de nombreux Ă©tablissements constituant la COMUE ‘UniversitĂ© de Lyon’. Sa raison d’ĂȘtre essentielle est de fĂ©dĂ©rer ses partenaires autour de l’acquisition et l’utilisation d’outils avancĂ©s en microscopie (microscopes environnementaux, FIB double-colonne) destinĂ©s Ă  amĂ©liorer la connaissance de la structure de la matiĂšre condensĂ©e (i.e. des matĂ©riaux de structure et multi-fonctionnels) Ă  l'Ă©chelle micromĂ©trique, nanomĂ©trique jusqu'Ă  l'Ă©chelle atomique.

Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accÚs via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.

Plus d'information peuvent ĂȘtre trouvĂ©es sur les sites ouĂšbes de la plateforme CLYM, ou en contactant le responsable.

 

MET Expérimentations Spécificités techniques et performances Expertises

FEI TITAN ETEM

25 jours accĂšs / an

 
  • imagerie sous gaz, pression < 30 mbar
  • Porte-Objets (PO) de chauffage 900°C (milieux oxydant ou rĂ©ducteur)
  • HREM corrigĂ©e
  • HRSTEM (HAADF)
  • EELS - EDX
  • Nano-compression in situ
  • TEM environnemental TITAN G2 80-300 kV avec correcteur image (rĂ©solution TEM < 0.1 nm Ă  80 et 300 kV - logiciel de reconstruction FEI ‘through-focus series’ - ; rĂ©solution STEM 0.13 nm Ă  300 kV)
  • DĂ©tecteurs STEM HAADF / ADF ‘DF2-DF4’, BF
  • SystĂšme EDX SDD (55 mmÂČ) X-max Oxford Instruments
  • GIF haute rĂ©solution Tridiem Gatan Ers ; rĂ©solution 0.7 eV (modes EELS et STEM-EELS)
  • Mode environnemental gaz < 25 mbar compatible mode hydratĂ© ; gaz admissibles CxHy, O2, N2,

  • Porte-objet double-tilt ±45° / ± 35°
  • Porte-objets chauffants Gatan inconel et tantale (environ 900°C) ; porte-objet chauffant ‘MEMS-chips’ DENS Solutions Wildlfire S5 (haut tilt ± 72°, Tmax 1300°C).
  • Porte-objet tomographique 80° Fischione ; logiciel d’acquisition tomographie XPlore 3D et scripts ‘maisons’
  • Porte-objet de nano-compression Hysitron PI95 compatible mode environnemental (gaz)
  • CamĂ©ra 4K haute rapiditĂ© Gatan OneView (100 fps/2K) ; dispositif cartographie cristallographique ‘4DSTEM’.

 

  • Observations Haute RĂ©solution corrigĂ©e, STEM et STEM atomique (non corrigĂ©)
  • Cartographies EDX
  • Spectroscopie EELS (core-loss edges), STEM-EELS et correction PCA
  • IN situ en nano-dĂ©formation (nano-compression)
  • TEM Environnemental gaz (rĂ©actions physico-chimiques, transformation de phases, rĂ©activitĂ© de surface, oxydo-rĂ©duction, catalyse,
)
  • Tomographie standard et tomographie rapide en mode ‘ETEM’

 

Zeiss N-Vision 40

20 jours accĂšs / an

 
  • PrĂ©paration FIB de lames TEM
  • Colonne Gemini SEM FEG 100 V- 30 kV (rĂ©solution 1.1 nm)
  • SystĂšme ’Dual Beam‘
  • Colonne FIB Gallium SEIKO SII 1 - 30 kV (rĂ©solution 4 nm)
  • Gas Injection System 5 entrĂ©es (C, W, SiOx, H2O, XeF2)
  • 2 Micro-manipulateurs Klocke
  • DĂ©tecteurs SE-in lens, BSE in-lens, ions secondaires
  • EBSD NordlyS 2S Oxford Instruments
  • SystĂšme EDX SDD (50 mmÂČ) X-max Oxford Instruments
  • DĂ©tecteur STEM
  • GĂ©nĂ©rateur de balayage externe (FIB/SEM) FIBICS
  • Flood gun

 

 

 

  • PrĂ©paration de lamelles FIB pour MET
  • Imagerie SE, BSE et ionique
  • Analyse chimique EDX 2D et 3D
  • Analyse 3D-FIB
  • Toutes classes de matĂ©riaux inorganiques (mĂ©talliques, cĂ©ramiques, polymĂšres et nano-composites
)

 

MEB Thermofisher Quattro S

25 jours accĂšs / an

 
  • MEB in situ (High Vac, Low Vac et environnemental (Air, H2O, Ar, CO2, N2, N2/H2 ...)
  • Colonne SEM - FEG 500 V - 30 kV (rĂ©solutions : 0,8 nm (STEM), 1 nm High-Vac, 1.3 nm Environnemental et 3 nm Ă  1 kV)
  • DĂ©tecteurs SE / BSE (angulaire/annulaire) et spĂ©cifiques pour LV et ESEM
  • DĂ©tecteur EDX SDD Ultim'Max 100 mmÂČ (Oxford Instruments)
  • DĂ©cĂ©lĂ©ration de faisceau pour travail sur Ă©chantillon sensible et/ou isolant
  • DĂ©tecteur STEM
  • De nombreux accessoires possible grĂące Ă  sa grande chambre (320 mm) :
    Platines chauffantes 1000°C et 1400°C
    • Platine de flexion 4 points
    • Portoir Wet-STEM
    • Platine Tomographique
    • Platine Peltier (-20°C Ă  60°C)
    • Platine de traction
  • Observations SEM haute rĂ©solution sous haut vide et analyse chimique par EDX
  • Observations environnementales avec contrĂŽle des gaz et atmosphĂšre hydratĂ©e, analyses Ă  diffĂ©rents taux d’humiditĂ© (dissolution, cristallisation, 
), observation en phase liquide
  • Observation Ă  haute tempĂ©rature sous atmosphĂšre contrĂŽlĂ©e (frittage, fusion, exsolution ....)
  • Tomographie SEM et ESEM : sous vide, en pression contrĂŽlĂ©e ou en mode hydratĂ©
  • CaractĂ©risation et observation In Situ d'Ă©chantillons organiques ou inorganiques (mĂ©talliques, cĂ©ramiques, polymĂšres, nano-composites, ...) mais aussi biologiques sur Ă©chantillons fixĂ©s (en mode humide et/ou hydratĂ©).