Publications
2015
Cristiano, F, Strenger, C, Schamm-Chardon, S, BeltrĂĄn, Ana M, Bauer, AJ, Duguay, S, « Atomic scale characterization of SiO 2/4H-SiC interfaces in MOSFETs devices », Solid State Communications, vol. 221 , p. 28â32, 2015., Google Scholar, BibTex
METSA, une infrastructure de recherche distribuĂ©e de 9 plateformes qui met Ă la disposition de la communautĂ© scientifique des instruments et une expertise uniques en France dans le domaine de la Microscopie Ălectronique en Transmission et de la Sonde Atomique.