Publications
2016
Hernández-Saz, J, Stanley, CR, Herrera, M, Duguay, S, Molina, SI, « Atom probe tomography analysis of InAlGaAs capped InAs/GaAs stacked quantum dots with variable barrier layer thickness », Acta Materialia, vol. 103 , p. 651–657, 2016., Google Scholar, BibTex
Duguay, S, Molina, SI, Hernández-Saz, J, Stanley, CR, Herrera, M, « Atom probe tomography analysis of InAlGaAs capped InAs/GaAs stacked quantum dots with variable barrier layer thickness », Acta Materialia, vol. 103 , p. 651–657, 2016., Google Scholar, BibTex
2015
Cristiano, F, Strenger, C, Schamm-Chardon, S, Beltrán, Ana M, Bauer, AJ, Duguay, S, « Atomic scale characterization of SiO 2/4H-SiC interfaces in MOSFETs devices », Solid State Communications, vol. 221 , p. 28–32, 2015., Google Scholar, BibTex
Hernández-Saz, J, Stanley, CR, Herrera, M, Duguay, S, Molina, SI, « 3D compositional analysis at atomic scale of InAlGaAs capped InAs/GaAs QDs », Scripta Materialia, vol. 103 , p. 73–76, 2015., Google Scholar, BibTex
METSA, une infrastructure de recherche distribuée de 9 plateformes qui met à la disposition de la communauté scientifique des instruments et une expertise uniques en France dans le domaine de la Microscopie Électronique en Transmission et de la Sonde Atomique.